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第二讲-Silvaco-TCAD-工艺仿真.pdf

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光电子器件综合设计 -------工艺仿真
主要内容 • 网格定义 • 初始化 • 离子注入 • 扩散 • 刻蚀 • 淀积 • 氧化 • 外延 • 抛光 • 光刻
• 工艺仿真模块 ATHENA工艺仿真软件 SSuprem4二维硅工艺仿真器 MC蒙托卡诺注入仿真器 DeckBuild 集成环境 硅化物模块的功能 淀积和刻蚀仿真器 蒙托卡诺沉积刻蚀仿真器 先进的闪存材料工艺仿真器 光电印刷仿真器
所有关键制造步骤的快速精确的模拟,包括 CMOS,bipolar,SiGe,SOI,III-V,光电子学以 及功率器件技术 精确预测器件结构中的几何结构,掺杂剂量分 配,和应力 有助于IDMs,芯片生产厂商以及设计公司优化 半导体工艺,达到速度、产量、击穿、泄漏电 流和可靠性的最佳结合
分析和优化标准的和最新的隔离流程,包括 LOCOS,SWAMI,以及深窄沟的隔离 在器件制造的不同阶段分析先进的离子注入 方法——超浅结注入,高角度注入和为深阱 构成的高能量注入 支持多层次杂质扩散,以精确预测衬底与邻 近材料表面的杂质行为
• 考虑多重扩散影响,包括瞬态增强的扩散, 氧化/硅化加强的扩散,瞬态激活作用,点 缺陷和簇群构造以及材料界面的再结合,杂 质分离,和传输 • 精确地对几何刻蚀和共形淀积,以及个别结 构和网格处理技术建模,用以允许进行多器 件几何结构的模拟和分析。
通过MaskViews 的掩模构造说明,工程师可 以有效地分析在每个工艺步骤和最终器件结 构上的掩模版图变动的影响。 与光电平面印刷仿真器和精英淀积和刻蚀仿 真器集成,可以在物理生产流程中进行实际 的分析。 与ATLAS 器件模拟软件无缝集成
可仿真的工艺 • Bake • CMP • Deposition • Development • Diffusion • Epitaxy • Etch • Exposure • Imaging • Implantation • Oxidation • Silicidation
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