光电子器件综合设计
-------工艺仿真
主要内容
• 网格定义
• 初始化
• 离子注入
• 扩散
• 刻蚀
• 淀积
• 氧化
• 外延
• 抛光
• 光刻
• 工艺仿真模块
ATHENA工艺仿真软件
SSuprem4二维硅工艺仿真器
MC蒙托卡诺注入仿真器
DeckBuild
集成环境
硅化物模块的功能
淀积和刻蚀仿真器
蒙托卡诺沉积刻蚀仿真器
先进的闪存材料工艺仿真器
光电印刷仿真器
所有关键制造步骤的快速精确的模拟,包括
CMOS,bipolar,SiGe,SOI,III-V,光电子学以
及功率器件技术
精确预测器件结构中的几何结构,掺杂剂量分
配,和应力
有助于IDMs,芯片生产厂商以及设计公司优化
半导体工艺,达到速度、产量、击穿、泄漏电
流和可靠性的最佳结合
分析和优化标准的和最新的隔离流程,包括
LOCOS,SWAMI,以及深窄沟的隔离
在器件制造的不同阶段分析先进的离子注入
方法——超浅结注入,高角度注入和为深阱
构成的高能量注入
支持多层次杂质扩散,以精确预测衬底与邻
近材料表面的杂质行为
• 考虑多重扩散影响,包括瞬态增强的扩散,
氧化/硅化加强的扩散,瞬态激活作用,点
缺陷和簇群构造以及材料界面的再结合,杂
质分离,和传输
• 精确地对几何刻蚀和共形淀积,以及个别结
构和网格处理技术建模,用以允许进行多器
件几何结构的模拟和分析。
通过MaskViews 的掩模构造说明,工程师可
以有效地分析在每个工艺步骤和最终器件结
构上的掩模版图变动的影响。
与光电平面印刷仿真器和精英淀积和刻蚀仿
真器集成,可以在物理生产流程中进行实际
的分析。
与ATLAS 器件模拟软件无缝集成
可仿真的工艺
• Bake
• CMP
• Deposition
• Development
• Diffusion
• Epitaxy
• Etch
• Exposure
• Imaging
• Implantation
• Oxidation
• Silicidation