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matlab仿真adc芯片设计参考.pdf

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2 2 2 2 Modeling and Emulation of a Novel Pipeline ADC Based on MATLAB L I M en g , Z H A N G R un bi n , L A I Zon g ( I nstit ute of Microelect ronics Ci rcuit &S ystem , East Chi na N ormal Uni versit y , S han g hai 200062 , Chi na) x i , C H E N L ei , S H E N J i a mi n g , C H EN W en s hen g stage architect ure and lower p recision in 2 bit per Abstract :A novel pipeline ADC st ruct ure based on MA TL AB/ Simulink toolbox is p ropo sed. In order to balance higher power dissipation in 4 bit first stage st ruc stage t ype wit h 3 bit first stage is int roduced. Simulation result s indicate t hat t he maximum SN R t ure ,a 8 ( Signal to Noise Ratio) and SFDR (Sp urio us Free Dynamic Range) of t his ADC (Analog to Digital Conver sion) are 60. 6 dB and 82. 177 dB respectively , wit h t he inp ut signal f requency of 10 M Hz and sampling clock of 40 M Hz. The model of novel pipeline ADC can give helpf ul information on imp roving system error performance and research on system static characteristic. Key words :pipeline ADC ;3 bit architect ure ;gain error ;error in sub EEACC :1290B ADC ;error in sub DAC 第 31 卷  第 3 期 2008 年 6 月     电 子 器 件 Chinese J ournal Of Elect ron Devices   Vol . 31  No. 3 J un. 2008 基于 MATLAB 的新型 Pipeline ADC 的建模和仿真 李  萌 ,张润曦 ,陈  磊 ,沈佳铭 ,陈文斌 ,赖宗声 (华东师范大学微电子电路与系统研究所 ,上海 200062) 摘  要 :在 MA TL AB/ Simulink 的平台上 ,设计并实现了一种新的 10 bit Pipeline ADC 的系统仿真模型 。针对 2 bit ,共 9 级 的结构的精度不足以及 4 bit 首级结构的功耗较大的特点 ,提出了一种首级 3 bit ,共 8 级的结构 。这种结构可以实现精度和功 耗的平衡 。经过系统仿真 ,在输入信号为 10 M Hz ,采样时钟频率为 40 M Hz 时 ,系统最大的 SNR = 60. 6 dB ,SFDR = 82. 177 dB 。创建的系统模型可为 ADC 系统中的误差和静态特性研究提供借鉴 。 关键词 :流水线结构的模数转换器 ;3 bit 结构 ;增益误差 ;子 ADC 误差 ;子 DAC(位数模转换器) 误差 中图分类号 :TN602    文献标识码 :A   文章编号 :1005 9490( 2008) 03 0834 04   模数转换器广泛应用于仪表 、通讯 、信号检测与 处理 、图像处理和多媒体等领域 ,它将现实社会的模 拟量转换为可以很方便地进行处理的数字量 ,几乎 所有的与模拟信号相关的电子产品中都能看到它的 身影 。不同领域对模数转换器的要求也不同 ,因此 模数转换器的结构也相应不同 。 流水线 结 构 由 两 步 结 构 演 化 而 来 , 由 m 级 flash ADC 构成 。每级包含采样保持 、子 ADC、子 DAC、减法器 、余量放大器等 ,从高位到低位依次算 出数字转换码 。由于每级都有采样保持电路 ,各级 可以同时工作 ,大大提高了转换速度 。采用 RSD ( Redundant Signed Digit ) 、平均技术 、校准技术等 可以获得较高的精度 。目前常用的结构有 9 级每级 2 bit 的结构[ 1 ] ,4 级每级 4bit 的结构[ 5 ] 等 。 然而 ,由于 9 级每级 2 bit 的结构的各级的精 度比较 低 , 受 级 间 转 换 误 差 ( 增 益 误 差 、子 ADC 误差 、子 DAC 误差) 的影响比较比较大 。如果采 用每级高精 度的 结构则 需要 较 大 的 功 耗 。例 如 每级 4 bit 的结构 ,每一级需要 15 个比较器 。本 文针对以上的矛盾设计了一种新的结构 ,在这种 结构中第一级采用了 3 bit 的结构 ,其它的 7 级则 采用每级 2 bit 的结构 。由于首级具有 3 bit 的精 16 03 收稿日期 :2007 基金项目 :上海市 AM 基金资助 (AM 0508) (AM 0513) ;上海市科委资助 (06SA14 ) 作者简介 :李  萌 (1983 赖宗声 (1943 ) ,男 ,硕士研究生 ,主要研究方向为数模混合集成电路设计 ,51051202029 @student . ecnu. edu. cn ; ) ,男 ,教授 ,博士生导师 ,华东师范大学微电子电路与系统研究所 ,研究方向为集成电路设计 。
第 3 期 李  萌 ,张润曦等 :基于 MA TL AB 的新型 Pipeline ADC 的建模和仿真 538 度 ,对级间误差可以达到较好的抑制 ,而相对于 9 级每级 2 bit 的结构只是多了 3 个比较器在功耗 上也相对较低 。 1  Pipeline ADC 模型的建立 1. 1  设计原理 ADC 的每一级都采用 2 bit 是一种常见的结 2 ] ,这种结构有两个主要的优点 : ①每一级的放 构[ 1 大器都具有很宽的带宽 ,大的反馈系数通常可以减 少建立时间 (较小的时间常数) ,这就意味着每一级 都可以有较快的速度[ 3 ] ; ②由于数字纠错系统可以 减小比较器所需的偏移量 ,这种结构在比较器中不 需要预放 (p reamplifier) ,因而这种结构具有较小的 功耗 。但是 ,这种结构的一个主要的缺点就是需要 较多的级数 ,这就使这种结构对级间的匹配要求比 较高[ 4 ] 。这种结构需要额外的校正电路 ,从而产生 了更多的死区 。 对于每级具有多位 (大于 2 bit) 的结构 ,系统 的整体精度 及级 间转换 误差 的抑 制能 力都有 所 提高 ,它具有以下几个优点 : ① 对放大器的增益 和建立时间没有十分严格地要求 ,增益误差对这 种结构的精度的影响相对较低 ,这就意味着可以 利用较 低 功 耗 结 构 的 放 大 器 来 实 现 此 结 构 [ 5 ] ; ② 由于 KT/ C 噪 声 较 低 , 电 容 匹 配 误 差 相 对 较 小 ,这种方法可以有效地减小电容的大小 ,也就 使功耗进一步降低 ; ③ 输入参考噪声将会减小 , 这是由于从 下一 级反馈 的噪 声将 会被 高增益 的 放大器所隔 离 , 对 本级 的影 响会 大 大 减 少 [ 6 ] ; 尽 管如此 ,这种 方法 也有 明显的 不 足 。首 先 , 由 于 每级的位数 的增 加使每 级内 部的 放大 器的反 馈 系数减小 , 从 而具 有 较 大 的 时 间 常 数 [ 5 ] 。其 次 , 当某一级的位数超过 4 bit ,在比较器中就需要加 上预放 ,而预 放的 加入 会使 整 个 ADC 的 功 耗 增 加 。最后 ,每级多位的结构将会增加比较器的数 量 。这会增加寄生的电容 ,放大器也必须去驱动 这些寄生电容负载 ,这就会增加了整体的功耗 。 1. 2  系统仿真模型的建立 基于以上的理论本文对提出的首级 3 bit 共 8 级的结 构 进 行 建 模 。利 用 的 工 具 是 MA TL AB/ Simulink 。Simulink 软件包的特色在于 : ①实现可 视化建模 。在 Windows 视窗下 ,用户通过简单的鼠 标抓取操作就可以建立直观的系统模型 ,并进行仿 真 。 ②实现了多工作环境间文件互用和数据交换 , 具有方便 、直观和灵活的优点 ,因此 Simulink 软件 包是对 Pipeline ADC 进行建模的强有力工具 。 3 bit 单元的输入输出关系如式 (1) 所示 ,其中 vin为输入信号 , vout 为输出信号 , vref 为参考电平 (在 系统仿真中我们设参考电平的大小为 1) 。 4 ·vin - 3 ·vref vin > 5 8 ·vref 4 ·vin - 2 ·vref 4 ·vin - 1 ·vref 5 8 3 8 ·vref > vin > 3 8 ·vref > vin > 1 8 vref vref vout = 4 ·vin 1 8 ·vref > vin > - 1 8 ·vref (1) 4 ·vin + 1 ·vref 4 ·vin - 2 ·vref 4 ·vin + 3 ·vref - - 1 8 3 8 - 5 8 ·vref > vin > - 3 8 5 8 ·vref > vin > - vref vref ·vref > vin 根据上式我们可以得到 3 bit 单元整体的结构 如图 1 所示 。整个结构包括一个零阶保持单元 ,一 图 1  3 bit 单元的结构图 个 3 bit 的子 ADC 单元 (图 2) ,一个 3 bit 的 DAC 图 2  3 bit 的子 ADC 单元 单元 (图 3) ,一个 4 倍增益的信号放大器以及一个 求和单元 。本单元输出了的残差信号送往下一级 , 三位数字信号送往数字纠错单元 。
638 电  子  器  件 第 31 卷   以下来构建系统的模型 ,这种结构的 Pipeline ADC 除了包括 8 级的数字转换单元外还包括数 字纠错单元 ,数字纠错技术是流 水线 ADC 常采 用的技术 。由于比较器存在失调 ,可能导致某级 流水线的模拟输出超出输入的量程范围 ,因此会 导致失码 ,通过降低余量放大器的增益 ,即 Gain < 2 ,能够使模拟输出仍然在量程范围内 ,提高对 失调的冗余 度 。根据 以上 原理 搭 建 的 系 统 模 型 如图 4 所示 。 图 3  3 bit 的子 DAC 单元 图 4  3 bit 首级共 8 级结构的系统建模 2  系统模型的仿真 流水线结构中系统级最主要的误差来源就是级 间转换误差 ,包括增益误差 、子 ADC 误差 、子 DAC 误差等 。以下我们对 9 级每位 2 bit 结构 10 bit 的 ADC ,改进后 8 级首级 3 bit 结构的 10 bit ADC 以 及 4 bit 首级结构的 ADC 级间转换误差进行比较 。 2. 1  增益误差 当余量放大器的实际增益与理想增益不等时 , 就会出现增益误差 。在输入端加入一个 F ( x) = x [ x ∈( - 1 ,1) ]的斜变信号 ,频率为 50k Hz ,然后分 别把模型中的余量增益放大器的增益提高 15 % ,可 以得到 3 种结构的输出结果以及理想情况下的输出 结果 。从图 5 中可以看出随着首级位数的增加输出 的结果越来越接近理想的结果 ,这也说明了失码率 逐渐的减小 。这是由于首级的位数的提高使数字输 出的高位的抗干扰程度增加了 ,因此整个系统的精 度也提高了 。 2. 2  子 ADC 误差 子 ADC 误差主要指的是比较器的误差 ,主要 来自比较电平的偏移 、比较器自身的一些失调以及 对两个比较接近的信号做出的错误判断等 。测试的 ]的 时候在输入端加入一个 F( x) = x [ x ∈( - 1 ,1) 图 5  带有增益误差的 ADC 数字输出 斜变信号 ,采样的频率为 50 k Hz ,然后把比较器的 比较电平增加 0. 03 V ,由于数字纠错单元的存在 , 整个系统的数字输出并没有出现失码的现象和图 5 的理想情况下的结果相同 。 2. 3  子 DAC 误差 子 DAC 的误差主要是由于基准电源的不稳 定 ,以及开关的延迟等造成其输出模拟电平的偏移 。 输入端加入一个 F ( x) = x [ x ∈( - 1 ,1) ]的斜变信 号 ,采样的频率为 50 k Hz ,接着把子 DAC 中的每个 基准源的电压都增加 0. 1 V ,可以得到 3 种结构的 数字输出 。从图 6 可以看出随着首级位数的增大曲 线逐渐向左平移 ,从与 x 轴的交点可以看出 3 bit 首 级的起点位于 4 bit 结构和 2 bit 结构的中间 ,在起 点的失码情况位于二者之间 ,但是由于位数越高基 准源所需的精度也越高 ,所以在相同的基准源下转
2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 2 738 2 2 2 2 2 2 第 3 期 李  萌 ,张润曦等 :基于 MA TL AB 的新型 Pipeline ADC 的建模和仿真 换过程中 3 bit 会产生相对较多的失码 。在设计过 程中首级位数较多的结构需要要求严格的基准源 。 图 6  带有子 DAC 误差的数字输出 2. 4  首级 3 bit 共 8 级结构的动态特性 在输入端加入一个频率为 10 M Hz 幅度为 0. 9 V 的正弦信号 ,采样频率为 40 M Hz ,采样 1 024 个 点并把信号输入到 pipeline ADC 模块 ,并把输出的 数字信号进行 FF T 分析 ,可以得出信号的时域和频 域曲线 (图 7) 以及系统的动态参数 : SN R = 60. 6 , SNDR = 60. 58 ,SFDR = 82. 177 。经过式 (2) 的计算 可以得到此系统的等效位数为 9. 78 位 。 N = ( SN R - 1. 76) / 6. 02 (2) 存在的误差以及导线的电阻会使比较电平偏移从而 引起 ADC 的误差 。在子 ADC 的实现中可以采用 开关电容比较器[ 8 ] 来减小这种误差 ,这种比较器利 用电容来存储差分电压 ,通过时钟的变化控制控制 电容电荷的转移以实现信号的差分比较 。为了减小 电容相对匹配误差对整个电路精度的影响 ,在版图 布局时 ,尽量采用一维 、两维共质心结构 。 4  结论 本文给出了一种新的结构的 Pipeline ADC ,并 通过 MA TL AB 仿真证明了这种结构的可行性 。通 过与 2 bit 共 9 级的结构性能比较可以看出这种结 构在精度上有较大提高 ,而功耗仅增加 5 %左右 。 相对于精度更高的 4 bit 结构 ,由于本结构需要的比 较器较少且比较器中不需要预放电路 ,所以可以节 省 30 %左右的功耗 。因此 ,这种结构可以在精度和 功耗方面实现较为理想的折衷 。 参考文献 : [ 1 ]  Shu T , Bacrania K , and Gokhale R , A 10 IEEE J . Solid BiCMOS A/ D Converter [ J ] Oct . 1996 , 31 (10) :1507 1510. b 40 Msample/ s State Circuit s , [ 2 ]  Song W , Choi H , Kwak S , and Song B , A 10 b 20 Msample/ s Power CMOS ADC [ J ]. IEEE J . Solid State Circuits , May Low 1995 ,30 (5) :514 521. [ 3 ]  Cho T. Low Power Low Voltage Analog to Digital Conversion Technique Using Pipelined Architect ures , Ph. D t hesis , Uni versity of California ,Berkeley , 1995. [ 4 ]  Kwak S ,Song B and Bacrania K , A 15 b , 5 Msample/ s Low Spurious CMOS ADC[J ] . IEEE J . Solid 1997 , 32 (12) :1866 1875. State Circuit s , Dec. 图 7  输出数字信号的时域及频域曲线 [ 5 ]  Cho Chang Hyuk. A Power Optimized Pipeline Analog to Dig 3  系统对版图设计的要求 在集成电路的设计中 ,版图的设计的好坏对整 个芯片的实现的会产生很大的影响 ,所以在系统的 设计中应该考虑到版图设计 。在设计原理中已经提 到 ,由于每级 2 bit 结构的模型级数比较多 ,使得在 版图设计的过程中 ,对级间匹配的要求相对于多位 结构要高很多 。对于上述问题我们可以采用“可行 性对称”的版图布局方式[ 7 ] 以及添加矫正电路的方 法来解决 。在每级 3 bit 以及 4 bit 结构中 ,与 2 bit 结构相比需要更多更精确的比较电平 ,但是基准源 ital Converter Design in Deep Sub Micron CMOS Technology. UMI Number :3198520. [ 6 ]  Cline David W , and Gray Paul R , A Power Optimized 13 b Digital Converter in 1. 2 μm State Circuit s , Mar. 1996 , 31 (3) : to Msample/ s Pipelined Analog CMOS[J ] . IEEE J . Solid 294 303. [ 7 ]  Florin Balasa , Koen Lampaert . Symmet ry Wit hin t he Se Pair Representation in t he Context of Placement for quence Aided De Analog Design[J ] . IEEE Transactions on Computer sign of Integrated Circuit s And Systems ,J UL Y 2000 ,19 (7) : 721 731. [ 8 ]  Karanicolas Andrew N ,Lee Hae seung. A 15 b 1Msample/ s Digitally Self Calibrated Pipeline ADC [ J ] . IEEE Journal of Solid State Circuit ,December. 1993 , 28 (12) .
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