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华为内部资料EMC测试方法.pptx

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EMC测试通用判据 • EMC测试主要目的是测试设备的和周围电磁环境的相互影响,它包括设备抵抗给 定电磁骚扰的能力和设备产生电磁骚扰的指标。即设备具有不受到电磁环境中的 其他设备发射的电磁骚扰的影响,并且设备或系统也不能产生超过规定限度的电 磁骚扰。 • 通用判据: • A:性能不容许变化,或者变化在产品规格书规定的范围内。全速转发或处理业 • • • 务时不允许有丢包现象。 B:设备在测试过程中,性能降低容许在产品规格书要求范围内,干扰消除后, 设备能恢复正常,不允许出现复位和任何方式的人工干预。比如:不允许测试过 程中出现业务中断、数据丢失、帧丢失、同步丢失等现象,误码率控制在4%内。 C:在测试过程中,设备允许出现暂时的业务中断,不能出现器件损坏。测试完 毕后设备能自行恢复,或者在设备后台、在远端操作恢复(软件上干预)。不允 许对设备进行硬件上的干预(比如插拔单板,硬件复位等)。---如果产品有更具 体的要求,判据参考此要求。 R:在测试过程中,设备允许出现业务中断,测试完毕后允许自行恢复或者人工 干预恢复(包括硬件上干预);测试中只允许初级防护器件损坏,并且更换损坏 的初级防护器件后,设备能恢复正常。
EMC测试总结 测试判据 测试项目简介—电磁骚扰 测试项目简介—电磁抗扰 其他
EMC测试项目 • 主要测试项目: • • • • • • • • • • • • • • EMI(对外的电磁干扰)测试: 包括: RE(辐射发射):测试通过空间传播的、电磁能量。 CE(传导发射):测试沿电源或信号线传输的电磁发射能量。 Harmonic(谐波电流骚扰测试) Fluctuations and flicker(电压波动与闪烁测试): EMS (设备本身的电磁抗干扰性)测试: 包括: RS(辐射敏感度试验):测试辐射骚扰造成影响设备性能的影响。 CS (射频场感应的传导敏感度):测试传导方式引入的骚扰信号对设备的影响。 EFT /B(电快速瞬态脉冲群抗扰度):测试产品抗高频脉冲开关干扰的能力。 SURGE(浪涌抗扰度):测试产品抗由于瞬间高压等引起的过电压的能力。 DIP(电压跌落与中断抗扰度):测试产品对电网供电电压瞬间变化的敏感程度。 ESD(静电放电抗扰度):测试产品抗静电放电的能力。 Power Induction(电力线感应测试): Power Contact(电力线接触测试):
EMC测试项目--RE • 正所谓辐射发射,顾名思义就是通过测量空间电磁波的场强或者功率而决定产品对外无线 干扰的恶劣程度,即电磁波以场的形式来干扰外界。天线中短的是高频,长的是低频 E(dBμV/m)=U(dBμV)+AF(dB/m)+CL(dB)-PA(dB)+Att(dB)
测试项目--RE 测试结果
测试项目--RE • 测试判据: • • Class A :一般指设备工作在电信中心等公共类环境 Class B :一般指设备工作在非电信中心、办公、居住类环境,B级要求严于A级 裕量要求 测试项目 RE CE RSE Field strength (dBµV/m) Disturbance Voltage (dBμV) ERP (dBm) 裕量要求 4.6dB (1GHz 以下) 3.6dB (1GHz以上) 3.3dB 3.8dB
测试项目--CE • CE:测试沿电源线、控制线或信号线传输的电磁能量。 • 频率范围为:150KHZ-30MHZ。测试方法参照标准为CISPR22或 EN55022。 • 分为电压法和电流法测试。 标准组织 标准代号 测试范围 CENELEC CISPR NEBS FCC EN 55022; 1998 + A1: 2000 + A2: 2003 150k-30MHz CISPR 22: 2003 GR1089 PART 15 150k-30MHz 9k-30MHz 150k-30MHz CE测试是对电源口、信号口对电网或者其他设备是否有影响进行的一 种测试,通常线缆是携带有较多干扰杂波的。CE也有一个类似脚本的 模板,当测试时能看到被测设备辐射出的能量普,也有A、B两个标准, 通常需要留有5dB的余量。一般测试频段为150KHz到30MHz。
测试项目--CE 测试限值 信号线电压限值(非屏蔽线) 信号线电流限值(屏蔽线和同轴电缆) AC电源限值(电压法) DC电源限值(电压法)
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