大规模集成电路设计基础实验报告
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实验一、反相器链缓冲器级数和尺寸优化
1. 实验目的
运用所学理论知识,完成一个 CMOS 工艺数字集成电路的设计,并用 HSPICE 软件验证
电路设计的正确性。加深对 MOS 晶体管理论、CMOS 数字电路的理解,掌握 MOS 晶体管尺
寸调整对时序电路性能参数影响的规律,设计正确的数字缓冲器电路。
2. 实验要求
采用所学过的 CMOS 数字集成电路结构,设计缓冲器电路(偶数个反相器链组成)满
足下列指标(晶体管最小长度 L 为 0.24um,最小宽度为 0.24um): VDD=2.5V;
1).设计缓冲器电路中的反相器的级数和反相器尺寸放大的倍数,当输出负载为 100pF,
使传输延时最小;采用附录所给的晶体管模型。
2).Hspice 进行仿真验证,给出缓冲器电路尺寸为最小时,电路的延时时间;经过优化之
后,缓冲器的延时时间各是多少。
3. 实验材料
HSPICE 仿真软件,原理图输入工具 scad3,可选,用于生成 SPICE 网表。也可以自己编
写 HSPICE 网表程序。
4. 报告要求
独立完成电路结构设计和电路参数的调试,给出最终完成的电路图或者电路的 SPICE
网表。给出 HPSICE 仿真结果,分析瞬态仿真结果,表明所设计的电路达到实验要求。
5. 实验参数计算
本设计使用的 CMOS 工艺为 0.25um 工艺,要完成实验要求,设计出一个 N(偶数)级反
相器链,使总延时最小,需要已知的参数有 CL,Cg,1 和 tp0。其中,CL 和 Cg,1 直接影响最后
设计出的反相器链的级数及各级的尺寸,而 tp0 影响具体延时时间,本题中 tp0 可暂不考虑
其影响。这里题目给出 CL=100pF,因此需估出 Cg,1 的值。
1
图 1 缓冲器的级联
反相器链的 Cg,1 可认为是第一级反相器(最小尺寸)本身的寄生电容 Cint1,由教材
第 216 页公式(4-24),Cint=Cdb1+Cdb2+Cgd12。同时有该页底部表 4.1,即下表:
0.25um CMOS 最小尺寸对称反相器负载电容
电容
Cgd1
H-L(fF) 0.23
L-H(fF)
0.23
Cgd2
0.61
0.61
Cdb1
0.66
0.90
Cdb2
1.5
1.15
Cgs3
0.76
0.97
Cgs4
2.28
2.28
Cw
0.12
0.12
CL
6.1
6.0
因此,可算出 Cg,1 实际电容在 3fF 左右。
下面进行反相器链的设计:
Cg,1=3fF,CL=100pF,暂时先设 f=4,
,使延时最小所需的级数为:
由于 N 取偶数,暂时先取 N=8.实际
。如下图所示:
总的延时时间与第一级本征延时之比为:
图 2 八级缓冲器
这里,考虑 N=4、N=6 和 N=10 的情形:
2
N=4,f=13.512
N=6,f=5.673
N=10,f=2.833
可以看出,N=8 确实能使延时最小,但与 N=6 与 N=10 的总延时数据差别不大。在对延
时要求不是特别严格的情况下,可以使用 N=6 甚至 N=4 代替,可大大节约版图的面积。
6. 实验网表及仿真波形
实验网表如下:
* Invertor simulation
.lib cmos025.txt TT
.GLOBAL VSS VDD
*********************************************************************
* Sub-Circuit Netlist:
* Block: buffer
********************************************************************
.subckt buffer OUT IN
*.NOPIN VSS
M_n1 A IN VSS VSS NMOS w=0.24u l=0.24u
M_p1 VDD IN A VDD PMOS w=0.48u l=0.24u
M_n2 B A VSS VSS NMOS w=0.882u l=0.24u
M_p2 VDD A B VDD PMOS w=1.764u l=0.24u
M_n3 C B VSS VSS NMOS w=3.243u l=0.24u
M_p3 VDD B C VDD PMOS w=6.486u l=0.24u
M_n4 D C VSS VSS NMOS w=11.920u l=0.24u
M_p4 VDD C D VDD PMOS w=23.841u l=0.24u
M_n5 E D VSS VSS NMOS w=43.818u l=0.24u
M_p5 VDD D E VDD PMOS w=87.636u l=0.24u
M_n6 F E VSS VSS NMOS w=161.068u l=0.24u
M_p6 VDD E F VDD PMOS w=322.137u l=0.24u
M_n7 G F VSS VSS NMOS w=592.066u l=0.24u
M_p7 VDD F G VDD PMOS w=1184.132u l=0.24u
M_n8 OUT G VSS VSS NMOS w=2176.357u l=0.24u
M_p8 VDD G OUT VDD PMOS w=4352.714u l=0.24u
CL OUT VSS 100PF
.ends buffer
3
x1 OUT IN buffer
*Power Supply
VDD VDD 0 2.5
VSS VSS 0 0
vin IN 0 pulse (0 2.5 0.1n 0.1n 0.1n 4.9n 10n)
.op
.option post ACCT NOMOD list ACOUT=0
.dc vin 0 2.5 0.01
.tran 1ns 10n
.end
.end
仿真波形如下:
图 3 8 级缓冲器的波形
两个标记如下:
实验结果分析:
传输延时:
4
+
实验二、D 触发器设计及输出延时优化
1. 实验目的
运用所学理论知识,完成一个 CMOS 工艺数字集成电路的设计,并用 HSPICE 软件验证
电路设计的正确性。加深对 MOS 晶体管理论、CMOS 数字时序电路的理解,掌握 MOS 晶
体管尺寸调整对时序电路性能参数影响的规律,设计正确的主从 D 触发器电路。
2. 实验要求
采用所学过的 CMOS D 触发器电路结构,设计一主从 D 触发器电路满足下列指标:
VDD=2.5V;
1).输出负载为 5 个标准尺寸(PMOS 晶体管 0.5um/0.24um,NMOS 晶体管 0.25um/0.24um)
的反相器时,传输延时小于 0.3ns(包括上升延时和下降延时);晶体管最小长度 L 为
0.24um,最小宽度为 0.24um。采用附录所给的晶体管模型。
2).D 触发器实现 T 触发器二分频电路功能,用 Hspice 验证所设计的电路的正确性。
3).假如输出端的负载为 40pF 的电容,请优化输出缓冲器电路,使得延时时间最短。
3. 实验材料
HSPICE 仿真软件。原理图输入工具 scad3,可选,用于生成 SPICE 网表。也可以自己编
写 HSPICE 网表程序。
4. 报告要求
独立完成电路结构设计和电路参数的调试,给出最终完成的电路图或者电路的 SPICE
网表。给出 HPSICE 仿真结果,分析瞬态仿真结果,表明所设计的 D 触发器电路达到实验要
5
求。
5. 实验参数计算
采用教科书中传输管实现的主从 D 触发器,所有晶体管均采用最小尺寸,将反相器及
传输管独立出来编写子电路模块,简化电路搭建和网表编写。
D 触发器实验电路图如下:
图 4 D 触发器实验电路图
(1) 当负载为 5 个标准尺寸的反相器时,实验电路图如下:
图 5 负载为 5 个标准尺寸的反相器时的 D 触发器
(2)D 触发器实现 T 触发器二分频电路功能。
将 D 触发器的!Q 端与 D 触发器的输入相连,输出 Qout 即对 ck 输入二分频。电路图如
下所示:
6
图 6 T 触发器二分频电路
6. 实验网表及仿真波形
(1) D 触发器
实验网表如下:
* Invertor simulation
.lib cmos025.txt TT
.GLOBAL VSS VDD
*********************************************************************
* Sub-Circuit Netlist:
* Block: D
*********************************************************************
.subckt inv A1 A2
*.NOPIN VSS
M_na A2 A1 VSS VSS NMOS w=0.25u l=0.24u
M_pa VDD A1 A2 VDD PMOS w=0.5u l=0.24u
.ends inv
.subckt trangate B1 B2 B3 B4
*.NOPIN VSS
M_nb B1 B4 B2 VSS NMOS w=0.25u l=0.24u
M_pb B1 B3 B2 VDD PMOS w=0.5u l=0.24u
.ends trangate
.subckt Dchufaqi Din Qout ck
*.NOPIN VSS
X1 Din C1 inv
X2 C1 C2 ck ckn trangate
X3 C4 C3 inv
7