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一种两级误差放大器结构的LDO设计.pdf

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一种两级误差放大器结构的LDO设计设计 一种两级误差放大器结构的 基于SMIC 0.18 μm CMOS工艺,设计了一种两级误差放大器结构的LDO稳压器。该电路运用两级误差放大器串 联方式来改善LDO的瞬态响应性能,采用米勒频率补偿方式提高其稳定性。两级放大器中主放大器运用标准的 折叠式共源共栅放大器,决定了电路的主要性能参数;第二级使用带有AB类输出的快速放大器,用来监控LDO 输出电压的变化,以快速地响应此变化。电路仿真结果显示:在电源电压为5 V时,输出为1.8 V,输出电压的温 度系数为10×10-6/℃;当电源电压从4.5 V到5.5 V变化时,线性瞬态跳变为48 mV;当负载电流从0 mA到60 mA 变化时,负载瞬态跳变为5 mV。且环路的相位裕度为74°,整个电路的静态电流为37 μA。该电路结构的瞬态跳 变电压值远小于其他电路结构,且能实现低功耗供电。 近年来,随着电子产品的日益复杂化和多样化,对稳压电源的要求不断提高,促使稳压电源向高稳定性、高集成度和 当LDO的电源电压或负载有一个快速的变化时,输出电压会有一个短暂的尖峰脉冲,此尖峰脉冲会导致大多数的电路工作 不稳定,因此,改善电路的瞬态性能十分重要[3]。传统的LDO结构中,电路多使用单级误差放大器,这种结构从输出电压发 生变化到反馈给误差放大器做出调整有一定的迟滞,导致输出产生尖峰脉冲。为了减小迟滞时间、改善瞬态性能,设计了一种 采用米勒补偿的 1 工作原理与性能分析 工作原理与性能分析 图1为传统的LDO结构,主要由带隙基准源、误差放大器、功率调整管和反馈网络等四部分组成。基准源给误差放大器提供 一个基准电压,电阻反馈网络将输出电压分压后反馈给误差放大器,放大器将基准电压和反馈电压比较后的差值进行放大后输 出作为调整管的栅极电压,改变调整管的电流,进而调整输出电压,使输出电压保持恒定。输出电压的表达式为 VOUT=VREF(1+Rf1/Rf2),当基准电压确定后,输出只与反馈电阻有关系。因此,可通过改变反馈电阻的比值来改变输出电 压的大小,实现多值输出。 传统的LDO结构采用ESR(Equivalent Series Resistance)补偿,CL是输出端外接的大电容,RESR为串联等效电阻,利用 CL与RESR产生的零点对电路中的第一非主极点进行补偿,使电路达到稳定[4]。这种补偿方式需要电容和电阻的取值在一定 的范围内才能使环路稳定。而电阻值容易受到环境温度和工艺等因素的影响,所以补偿不精确,环路稳定性较差[5]。且补偿 电容需大面积片外电容,使得芯片面积较大,不能满足高集成度的要求。 本设计针对传统结构的诸多缺点做了有效的改进。如图2所示,设计了一种两级误差放大器结构的LDO线性稳压器。主放大 器A1是标准的折叠式共源共栅放大器,这种结构使电源抑制特性和输入共模范围得到改进[6],它决定了LDO的主要性能参 数,用来确保LDO的良好性能;放大器A2是一个快速放大器,其结构如图3所示,只有增益级和一个AB类输出级,主要对 LDO输出电压进行监控,AB类放大器可缩短充电时间[7],以快速响应瞬变,进而进行调节。
当需供电电路在不同模式之间切换时,负载电流会有一个快速的变化,从而导致输出电压改变,直到调整管调节此变化使 输出稳定。使用图1所示的单级误差放大器时,从输出电压发生变化到误差放大器做出反应的过程中,由于需要对寄生电容进 行充电,因此将有一定的延迟效应。延迟效应会使输出电压有一个尖峰脉冲,因此减小延迟时间可使输出瞬变减小。在图2所 示的电路中,使用两级误差放大器串联的方式可有效改善这一性能。当负载电流发生变化时,输出电压的变化通过R2反馈到 快速误差放大器A2,与前一级的输出相比,它不需很大面积的调整管,因此寄生电容较小。可对寄生电容进行快速充电,对 输出电压的变化做出快速响应,从而缩短延迟时间、减小尖峰脉冲电压,因此可以改善它的负载瞬态响应性能。当LDO达到 稳态时,它的输入差值为零,所以不改变整体性能参数。同时,这种结构不需要使用大宽长比的功率调整管就可以达到较高的 负载电流能力,可有效减小芯片面积。 运用米勒补偿方法对电路进行补偿,通过在输出级与第二级跨导的输入级之间跨接一个电容来实现,如图2所示。在前馈通 路中加入一个电阻与补偿电容串联,增大补偿电路在高频时的阻抗值,从而减小前馈电流,使得右半平面的零点推至高频处, 甚至消除,留下一个左半平面的零点,以增加环路的相位裕度[8]。 2 整体电路设计与性能仿真 整体电路设计与性能仿真 2.1 整体电路设计 整体电路设计 如图4所示,LDO的核心电路主要由偏置电路、一级误差放大器、功率调整管、二级误差放大器等四部分组成。偏置电路通 过电流镜为整个电路提供偏置电流,保证静态工作点;一级误差放大器采用折叠式共源共栅结构,具有增益高、摆幅大、速度 高等优点;功率管选用PMOS管,利于增大负载电流;第二级误差放大器采用快速放大器,对输出电压的变化做出快速的调 节。 2.2 电路性能仿真 电路性能仿真 基于SMIC 0.18 μm CMOS工艺设计了一种电源电压为5 V、输出为1.8 V的LDO稳压器电路,芯片面积为150 μm×105 μm。对电路进行仿真,如图5所示。当温度从-40 ℃到125 ℃变化时,输出电压的温度系数为 10×10-6/℃,可见输出电压随温度变化很小。电路的静态电流为37 μA,可实现低功耗供电。 图6所示为LDO在负载电流为45 mA、频率从0.1 Hz到100 MHz变化时的幅频和相频特性曲线。当相位裕度大于60° 时,环路可达到稳定,相位裕度越大,环路稳定性越好,但时间响应减慢[9]。因此,应在稳定性和响应时间之间做折中考 虑。从图中可以看出,环路的相位裕度为74°,单位增益带宽为4 MHz,环路可达到很好的稳定性。
LDO的线性和负载瞬态响应特性曲线如图7所示。图7(a)为线性瞬态响应特征曲线。从图中可看出,当输入电压从4.5 V到 5.5 V变化时,输出电压变化仅为48 mV左右;图7(b)为负载瞬态响应特性曲线,从图中可看出,当负载电流从0 mA到60 mA 变化时,输出电压变化仅为5 mV左右。因此,本结构瞬态跳变远小于其他电路结构。 本文设计了一种米勒补偿的两级误差放大器结构的LDO线性稳压器,通过两级误差放大器串联结构缩短输出变化与放大器 反应之间的延迟时间,改善输出电压的瞬态响应特性。同时,采用电阻与补偿电容串联的米勒补偿方式对环路进行补偿,增加 环路的稳定性。SMIC 0.18 μm CMOS 工艺下的仿真结果表明,电路的整体版图面积为150 μm×105 μm, 环路的相位裕度为74°;电源电压从4.5 V到5.5 V变化时,线性瞬态跳变为48 mV;负载电流从0 mA到60 mA变化时,负 载瞬态跳变为5 mV,远小于一般单级误差放大器结构LDO的瞬态特性;且电路的静态电流为37 μA,实现了低功耗供电。 参考文献 参考文献 [1] RINCON-MORA G A,ALLEN P E.A low-voltage,low quiescent current,low drop-out regulator[J].IEEE Journal of
Solid-State Circuits,1998,33(1):36-44. [2] AL-SHYOUKH M,LEE H,PEREZ R.A transient-enhanced low-quiescent current low-dropout regulator with buffer impedance attenuation[J].IEEE Journal of Solid-State Circuits,2007,42(8):1732-1742. [3] STRIK S,STRIK V.Low quiescent current LDO with improved load transient[C].International Biennial Baltic Electronics Conference,Tallinn,Estonia,2008. [4] SIMPSON C.Linear regulators:theory of operation and compensation[Z].National Semiconductor Application Note 1148,2000. [5] MILLIKEN R J,SILVA-MARTINEZ J,SANCHEZ-SINENCIO E.Full on-chip CMOS low-dropout voltage regulator[J]. IEEE Transactions on Circuits and Systems,2007,54(9):1879-1890. [6] 毕查德·拉扎维.模拟CMOS集成电路设计[M].西安:西安交通大学出版社,2003. [7] LEUNG K N,MOK P K T.A capacitor-free CMOS lowdropout regulator with damping-factor-control frequency compensation[J].IEEE Journal of Solid-State Circuits,2003,38(10):1691-1702. [8] ALLEN P E,HOLBERG D R.CMOS模拟集成电路设计[M]. 北京:电子工业出版社,2005. [9] 何乐年,王忆.模拟集成电路设计与仿真[M].北京:科学出版社,2008.
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