光纤传输损耗的测量
一.实验目的和内容
1.了解光纤传输损耗的特性及其测量方法。
2. 掌握用切断法测量光纤传输损耗的方法和技巧.
二.实验基本原理
在光纤传输过程中,光信号能量损失的原因有本征的和非本征的,在实用中最关心的是
它的传输总损耗。已经提出的测定光纤总损耗的方法有 3 种:切断法、插入损耗法和背向散
射法。
波长为 的光沿光纤传输距离 的衰减且
(以 dB 为单位)定义为
=10
(1)
式中 , 分别是注入端和输出端的光功率。
对于一根均匀的光纤,可定义单位长度(通常是 lkm)的衰减系数
(以 dB/km 为单
位),
=
=
(2)
光纤的衰减系数是一个与长度无关但与波长有关的参数。
衰减测量注入条件
为获得精确、可重复的测量结果,由定义式(1)可见,测量时应保证光纤中功率分布是
稳定的,即满足稳态功率分布的条件。实际的光纤由于存在各种不均匀性等因素,将引起
模耦合,而不同的模的衰减和群速度都不同。因此在多模传输的情况下,精确测量的主要问
题是测量结果与注入条件、环境条件(应力、弯曲、微弯)有关。实验表明:注入光通过光纤
一定长度(耦合长度)后,可达“稳态”或“稳态模功率分布”,这时模式功率分布就不再随
注入条件和光纤长度而变,但在一般情况下对于质量较好且处于平直状态的光纤,其耦合长
度也需要几公里。因此在实际测量中,对于短光纤一般用稳态模功率分布装置,或适当的光
学系统,或有足够长的注入光纤,以获得稳态功率分布条件。单模光纤因为只传导一个模,
没有稳态模功率分布问题,所以衰减测量不需要扰模。
切断法
这是直接严格按照定义建立起来的测试方法。在稳态注入条件下,首先测量整根光纤的
输出光功率
;然后,保持注入条件不变,在离注入端约 2m 处切断光纤,测量此短光
纤输出的光功率
可认为是被测光纤的注入光功率。因此,
按定义式(1)和(2)就可计算出被测光纤的衰减和衰减系数。如果要测量衰减谱,只要改
,因其衰减可忽略,故
变输入光波长,连续测量不同波长的
,然后保持注入条件不变,在离注入端约 2m 处
切断光纤,再连续测量同样的不同波长的
曲线。
,计算各个波长下的衰减,就可得到衰减谱
由于这种测量方法需要切断光纤,所以是破坏性的,但测量精度高,优于其它方法 0.1dB,
所以是光纤衰减测量的一种标准测试方法。测试装置如图 1 所示。测量单一波长衰减时,光
源可使用谱宽窄的发光二极管(LED)或激光栅(LD),以提高动态范围。测衰减谱时则应用宽
L)(A)(A21lgPP1p2PLA)(LPP)/lg(10212P1P1P2P1P
光谱光源,再通过单色仪分光。光源应能在完成测试过程的足够长时间内保持光强和波长稳
定。谱线宽度应不超过规定值。
插入损耗法
上述切断法除具有破坏性以外,用于现场测量既困难,又费时,因此现场测量需用非破
坏插入法来代替切断法。目前插入损耗法对于多模光纤的测试,其测量精度和重复性已可满
足要求,所以被选为替代测试方法。其测量原理如图 2。
测量时先校准精入光功率
。然后把待测光纤插入,调整耦合头使达到最佳耦合,
记下此光功率
-
减 和连接器(或接头)损耗 Ai。最后,被测光纤衰减为
。于是测得的衰减且
=
。显然,
包括了光纤衰
(dB/km)
=
式中
-Ai ,dB/km。可见,插入损耗法的测量精确度和重复性要受到耦合接头
的精确度和重复性的影响,所以这种测试方法不如切断法的精确度高.但因此法是非破坏性
的,测量简单方便,故适合干现场使用。
背向散射法
背向散射法也是一种非破坏性的测试方法。测试只需在光纤的一端进行,而且一般有较
好的重复性。更由于这种方法不仅可以测量光纤的衰减系数,还能提供沿光纤长度损耗特性
的详细情况,其中包括检测光纤的缺陷或断裂点位冒、接头的损耗和位置等,也可给出光纤
的长度,所以这种方法对实验研究、光纤制造和工程现场都很有用。利用这种方法做成的
测量仪器,叫做光时域反射计(optical time—domain reflectometer),简称 OTDR。
背向散射法是将大功率的窄脉冲注入被测光纤,然后在同一端检测沿光纤背向返回的
散射光功率。因为主要的散射机理是瑞利散射,瑞利散射光的特征是它的波长与入射光波的
波长相同,光功率与该点的入射光功率成正比,所以测量沿光纤返回的背向瑞利散射光功率
就可以获得光沿光纤传输时损耗的信息,从而可以测得光纤的衰减.故称此方法为背向散射
1P2P'A1P2P'AALA/A'A
法。其简单原理框图如图 3 所示。
3
2
6
1
4
5
图 3 背向散射法测量原理框图
1.光源 2.光纤分路器 3.待测光纤
4.光探测器 5.信号处理单元 6.显示器
图 3
光脉冲通过方向耦合器注入被测光纤。光脉冲在光纤中传输,沿光纤各点来的背向瑞利
散射光返回到光纤耦合器,经方向耦合器输入光检测器,经信号处理后输出,就可观察和记
录所测的结果。图 4 是背向散射的典型记录曲线,各段分别反映如下特性:
b
a
PA
e
c
d
PB
LAB
长度
图 4 背向散射法(对数坐标)测量的典型曲
线
a 段——由于耦合器和光纤前端面引起的菲涅耳反射脉冲;
b 段——光脉冲沿具有均匀特性的光纤段传播时的背向瑞利散射曲线;
c 段——由于接头或耦合不完善引起的损耗,或者光纤存在某些缺陷引起的高损耗区;
d 段——光纤断裂处,损耗峰大小反映了损坏的程度;
e 段——光纤终端引起的反射损耗。
由于被测光纤存在接头或缺陷时各段背向散射系数不同,测得的衰减是不准确的,可能
产生很大的偏差。但是对于均匀、连续、无接头和缺陷的光纤,衰减测量的结果足够精确。
背向散射法同样适用于单模光纤。虽然单模光纤中背向散射过程不能用几何光学来研
究,但是根据波动光学的理论研究证明,单模光纤输入端背向散射功率的表达式除了背向散
射系数的意义以外,与多模光纤相同。因此,背向散射法同样适用于单模光纤的衰减特性测
量。
背向散射法测量衰减有以下缺点:①无法控制背向散射光的模式分布,这常使两传输
方 向上测的衰减系数不同,为此可取两方向测量值的平均。②对光纤的非均匀性很敏感。
光纤 的不均匀,如数值孔径、直径或散射系数的变化等对背向散射信号有影响,不利于衰
减系数 的确定。由于这些缺点,使背向散射法不能作为测量衰减的基准方法,有疑问时,
应以切断法的结果为准。
三.实验用具与装置图
实验用具:鹵钨灯,透镜,单色仪,塑料光纤,光功率计。
装置图:
图 5
四.实验操作步骤
1. 开启鹵钨灯电源,使光源成像于缝上,透镜与缝之间的距离应使其相对孔径与仪器
(单色仪)相对孔径相等。
2. 仔细调节光纤入射端面的位置,要求光纤输出最强的光。
3. 使用 BGJ 型光功率计,按键打向短波和 199.9nw 档。记录单色仪波长鼓从 17.5,18.0,
18.5,19.0,19.5,20.0,20.5,21.0 八个点时光功率计的读数(减去暗电流),重复三次测
量。
4. 保持光纤输入端不变,把光纤剪掉约一半重复上面八个点的测量三次。
五.数据处理
以波长为横坐标,衰减的 dB 数为纵坐标,用最小二乘法分析实验数据,作出光纤损耗
随波长变化的曲线
dB 数=
lg
L 为原光纤长度,l 为光纤剪掉后剩下的长度。
注:可利用硅光电池光谱特性测量实验作的波长校正曲线。
六.实验结果分析与实验报告要求:
将实验数据和数据处理结果写在实验报告上,分析实验结果好坏,找出其原因。
七.思考题与预习自测题
1. 什么叫光学仪器的相对孔径?应如何调节单色仪才能使其有最大的光强及最好
的单色性?
2. 光纤传输损耗的大小与哪些因素有关?
lL10Lplp