技术公告
终端有限公司备件与维修支持部
RIO EWP TOP 故障维修指导
一、音频 TOP 故障维修指导
TOP1:一直无送话/有时无送话/送话杂音
故障现象:
通话或录音出现主、副 MIC 一直或有时无送话故障。
故障分析:
一般复现的主要原因为 MIC 单体不良、胶套堵塞、前壳堵塞、codec 芯片不良、通路
短路/断路等故障。
维修方法:
一直无送话/有
时无送话
主MIC环回测试/
副MIC环回测试
主MIC、副MIC
分别录音30分钟
左右
Pass
实网通话验证
主、副MIC通话
Pass
参考信号
类故障维
修
Fail
交叉验证主板、
小板和前壳
主/小板不
良
Fail
主板、小板维修
(通路、codec芯
片、MIC单体等)
前壳不良
MIC胶套堵塞更换
胶套;
A壳堵塞更换A壳
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步骤:
1. 使用“*#*#2846579#*#*”进入 MMI 测试,分别进入“主 MIC 环回测试”和“副
MIC 环回测试”单元进行相关测试,初步检测 MIC 器件单体功能。
2. 打开录像,选择仅主 MIC 工作录音 30 分钟检验主 MIC 单体功能;堵上主 MIC 用
录音工具,录音 30 分钟检验副 MIC 单体功能。
3. 单体功能测试 Fail 时,交叉验证主板和前壳:主板不良,维修主板通路、codec 芯
片等故障;前壳不良,更换新 MIC 胶套或 A 壳;
4. 单体功能测试 Pass 时,进行实网通话测试,若实网 Fail 进行主板通路维修(通路、
codec 芯片等),若实网正常,参考信号类故障分析维修进行进一步故障确认。
注意:更换主 MIC 胶套时,必须清除残留在音腔支架上的残胶,且必须更换自带背胶
的新 MIC 胶套;
TOP2:听筒无声/声音小/杂音
故障现象:
通话过程中,听筒无声、声音小或出现杂音。
故障分析:
听筒单体不良、听筒 pad 点脏污、听筒防尘网脏污堵塞、codec 芯片不良、通路短路/
断路等问题。
维修方法:
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听筒无声/杂音
Receiver功能
测试
防尘网外是否脏
污
Pass
实网通话测试听
筒功能
Pass
参考信号
类故障分
析维修
Fail
Fail
交叉验证主板和
前壳
主板不良
主板维修(PAD点
是否脏污、通路、
codec芯片等)
前壳不良
交叉验证听筒和A
A壳不良
壳
更换新A壳、泡棉
和听筒
听筒不良
更换新泡棉和听筒
步骤:
1. *#*#2846579#*#*”进入 MMI 测试,进入“receiver 测试”,主观听音测试判断听
筒声音是否正常;
2. 用手电筒观察听筒防尘网外出是否糊有一层脏污,必要时可借助显微镜对比观察正
常防尘网与故障机防尘网,以区别是否引入脏污;
3. 听筒功能测试 Fail 时,交叉验证主板和前壳,观察主板听筒 PAD 点是否脏污;主
板不良,进行主板维修;前壳不良,进行第 3 步判断;
4. 交叉验证听筒和 A 壳:听筒不良,维修更换新泡棉和听筒;A 壳不良,更换新 A
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壳、泡棉和听筒单体;
5. 若听筒功能测试 Pass,则进行实网通话听筒功能测试,拨打“10086”、“112”等实
网电话,主观听音测试通话通路听筒是否正常,若 Fail 进行主板通路维修(codec 芯片
等);若实网正常,参考信号类故障分析维修进行进一步故障确认。
注意:维修时泡棉、听筒不得二次复用,必须更换同编码新物料。
TOP3:喇叭杂音/声音小/无声
故障现象:
外放音乐和免提通话喇叭杂音、声音小和无声等不良。
故障分析:
防尘网脏污堵塞、音腔泄漏、FPC 腐蚀、Smart PA 不良、喇叭单体不良、codec 芯片不
良、通路短路/断路等问题。
维修方法:
主板维修(通路、
Smart PA、codec芯
片等)
主板不良
喇叭杂音
/声音小/无声
Fail无声
交叉验证主板和
前壳
音乐外放
测试
Pass
实网通话测试免
提Spk功能
Pass
参考信号
类故障分
析维修
前壳不良
Fail杂音/
声音小
Fail
更换新FPC、音
腔支架和喇叭单
体
交叉验证主板、
前壳
主板不良
主板维修(通路、
Smart PA、codec芯
片等)
前壳不良
音腔支架防尘网脏
污堵塞、喇叭单体
不良、音腔泄漏等
更换新音腔支架
和喇叭单体
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步骤:
1. *#*#2846579#*#*”进入 MMI 测试,进入“speaker 测试”,进行 Speaker 音乐外放
测试,主观听音判断喇叭声音是否正常;
2. 若外放声音小、杂音,交叉验证主板和前壳,确定是主板问题还是前壳问题:主板
问题,通路、Smart PA、codec 芯片等维修;前壳问题,更换新音腔支架和 SPK 单体组
件维修。
3. 若外放无声,交叉验证主板和前壳:主板问题进行维修(主板弹片、L2202 电感、
Smart PA、codec 芯片等);前壳问题,更换新 FPC、音腔支架和 SPK 单体组件。
4. 若外放音乐测试 Pass,则进行实网通话测试,若 Fail 进行主板通路维修(codec 芯
片等);若实网正常,参考信号类故障分析维 修进行进一步故障确认。
注意:音腔支架和 SPK 单体不得二次复用,无声判断为前壳问题时必须更换新 FPC,
所有物料维修必须更换同编码新物料。
二、外观结构故障
TOP1:外观故障
故障现象:
前壳磕碰,后壳高光划伤、AB 壳间隙、摄像头装饰件、镜片脱落,脏污等问题
故障分析及维修:
(1) 前壳磕碰,后壳高光划伤:
问清楚客户使用场景,观察手机划伤程度。对比 ID 限度样,限度样内的不维修,
不录工单,特殊客户,不能忍受划伤瑕疵的,特殊处理。超出限度样的,予以
换后壳。
(2) AB 壳间隙超标:
观察前后壳间隙所在位置,及间隙用手按压能否消除。若不能消除,拆掉上下
装饰件,观察上下螺钉是否锁紧充分。若锁紧不充分,可用螺丝刀继续拧紧,
直至间隙 OK 即可。若上下锁后壳的螺钉未见异常,拆开后壳,观察主板螺钉
是否锁紧充分,观察主板及后壳上是否有异物。 若仍未发现异常,换后壳组装
适配。若组装适配 NG,观察前壳组件塑胶部分是否有多胶,定位筋大等问题。
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(3) 摄像头装饰件、镜片等脱落,镜片裂,后壳开裂
摄像头镜片脱落、镜片裂故障则清理后壳残胶,重新胶粘新的镜片即可。
后壳开裂则更换后壳。
典型故障现象:
AB 壳间隙,螺钉未充分锁紧。
TOP 2:电池磕碰变形、断裂铁塑分离等
故障现象:
电池盖周圈出现严重磕碰变形、开胶等
故障分析:
电池盖是铝合金件,本身硬度较低,磕碰、跌落以后容易出现变形,尤其角落变形凹
坑。后盖采用 NMT 技术工艺,将铝件和塑料结合,难免出现结合不稳定的后壳流出,
导致用户跌落以后出现塑胶铁塑分离。
维修方法:
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实例:
RIO EWP 此类不良更换电池盖后未有复现
RIO电池盖拆机维修
指导.pptx
三、按键结构故障
TOP 1:电源键晃动
故障现象:
电源键塌陷,晃动,一边高一边低
故障分析:
由于各个件公差配合的原因,按键处公差链也比较厂,当前架构下的按键容易出现电源键塌陷,晃
动,一边高一边低的问题。
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维修方法:
观察电源键是否手感弱,晃动是否明显。拆机以后更换电源键。若仍然晃动明显,再次拆机测量
FPC 的厚度。或者在 FPC 下方贴合一个 0.05mm 的 mylar 片。
RIO音量键电源键维
修指导.pptx
TOP 2:音量键卡键,手感弱
故障现象:
音量上键时不时卡键,按不动。
故障分析:
电池盖音量键槽 CNC 宽度小的问题,音量键点胶不良
维修方法:
观察音量键是否手感弱,是否卡键。拆机以后更换音量键。若仍然卡键更换后壳。